Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Сохранить в:
Библиографические подробности
OCLC:18379314
Главный автор: Brudzewski, Kazimierz
Язык:Polish
Опубликовано: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Серии:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Предметы:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Формат:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Описание
Примечание:Caption title.
Summary in English and Russian.
Объем:83 p. : ill. ; 24 cm.
Библиография:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Схожие документы