Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
OCLC:18379314
Hoofdauteur: Brudzewski, Kazimierz
Taal:Polish
Gepubliceerd in: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Reeks:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Onderwerpen:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Formaat:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Omschrijving
Beschrijving item:Caption title.
Summary in English and Russian.
Fysieke beschrijving:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografie:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Gelijkaardige items