Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
OCLC:18379314
Autore principale: Brudzewski, Kazimierz
Lingua:Polish
Pubblicazione: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Serie:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Soggetti:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Natura:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Descrizione
Descrizione del documento:Caption title.
Summary in English and Russian.
Descrizione fisica:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografia:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Documenti analoghi