Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
OCLC:18379314
Prif Awdur: Brudzewski, Kazimierz
Iaith:Polish
Cyhoeddwyd: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Cyfres:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Pynciau:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Fformat:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Disgrifiad
Disgrifiad o'r Eitem:Caption title.
Summary in English and Russian.
Disgrifiad Corfforoll:83 p. : ill. ; 24 cm.
Llyfryddiaeth:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Eitemau Tebyg