Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:18379314
المؤلف الرئيسي: Brudzewski, Kazimierz
اللغة:Polish
منشور في: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
سلاسل:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
الموضوعات:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
التنسيق:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

الوصف
وصف المادة:Caption title.
Summary in English and Russian.
وصف مادي:83 p. : ill. ; 24 cm.
بيبلوغرافيا:Bibliography: p. 71-73.
تدمد:0137-2300 ;

مواد مشابهة