Bestimmung refraktärer Spuren in Refraktärmetallen mit ICP-AES und ICP-MS nach einer nasschemischen Spuren-Matrix-Trennung /

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Bibliographic Details
OCLC:75763653
Main Author: Scheifler, Frank
Corporate Author: Universität Hannover
Language:German
Published: [S.l. : s.n.], 1996.
Edition:[Mikrofiche-Ausg.]
Subjects:
Hochschmelzendes Metall > Spurenanalyse > ICP-Massenspektrometrie > ICP-Atomemissionsspektroskopie.
Format:

Thesis Monograph Microform

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