Einfluss von Fremdatomen auf Struktur und Verteilung von Stufen auf den Vizinalflächen von Si (001) /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
OCLC:75545774
מחבר ראשי: Wasserfall, Johannes
מחבר תאגידי: Technische Universität Berlin
שפה:German
יצא לאור: [S.l. : s.n.], 1994.
מהדורה:[Mikrofiche-Ausg.]
נושאים:
פורמט:

Thesis Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

תיאור Local Call Number סטטוס
P-90068033 זמין