Strukturprofilsimulation dicker Schichten in der optischen Lithographie mit DNQ-Novolak-basierenden Photoresists /

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Detalles Bibliográficos
OCLC:45561554
Autor principal: Chung, S. J.
Autor Corporativo: Forschungszentrum Karlsruhe. Technik und Umwelt
Otros Autores: Hein, H. (Hermann), 1879-1939, Schulz, J.
Lenguaje:German
Publicado: Karlsruhe [Germany] : Forschungszentrum Karlsruhe, 1998.
Colección:Wissenschaftliche Berichte (Forschungszentrum Karlsruhe. Technik und Umwelt) ; FZKA 6111.
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Documento de Gobierno Tesis Monograph

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