Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten /
Saved in:
| OCLC: | 75690625 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Language: | German |
| Published: |
[S.l. :
s.n.],
1995.
|
| Edition: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Subjects: | |
| Format: | Thesis Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |