Precision measurement of wavelengths and natural line widths of 3d-2p pionic x-ray transistion in low-Z atoms /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
OCLC:46169068
Κύριος συγγραφέας: Chambrier, Gilbert de
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Γλώσσα:English
Έκδοση: 1984.
Θέματα:
Μορφή:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

LEADER 01217nam a2200313Mi 4500
001 in00005629043
003 OCoLC
005 20020606154410.0
008 710101s1984 sz 000 0 eng d
035 |a (OCoLC)46169068  
040 |a ZXW  |b ger  |c ZXW  |d CRL 
049 |a CRLL 
099 |a P-00019290 
100 1 |a Chambrier, Gilbert de. 
245 1 0 |a Precision measurement of wavelengths and natural line widths of 3d-2p pionic x-ray transistion in low-Z atoms /  |c Gilbert de Chambrier. 
260 |c 1984. 
300 |a 58 S. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent. 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia. 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier. 
502 |a Thesis (doctoral)--Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, 1984. 
653 |a wavelengths. 
653 |a x-rays. 
653 |a physics. 
710 2 |a Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. 
907 |a .b15684799  |b 12-03-21  |c 06-06-02 
998 |a diss  |b 06-06-02  |c m  |d -  |e -  |f eng  |g sz   |h 0  |i 1 
999 f f |i d073e9fb-5ef8-5362-9a17-29e03d217cf7  |s b4555147-2d3c-5608-ae78-88716324999e  |t 0