Electron density and X-ray diffraction /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
OCLC:63454740
Autor Principal: Harkema, Sybolt
Autor Corporativo: Technische Hogeschool Twente
Idioma:English
Publicado: [S.l.] : [s.n.], 1971.
Formato:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

LEADER 01341cam a2200349Ma 4500
001 in00006142203
003 OCoLC
005 00010101120000.0
008 820806s1971 ne m 000 0 eng d
024 7 0 |a 000389305 
029 0 |a NLGGC  |b 821983113 
035 |a (OCoLC)63454740 
040 |a NLGGC  |e fobidrtb  |b dut  |c NLGGC  |d CRL 
041 0 |a eng  |b dut 
049 |a CRLL 
099 |a P-00381500 
100 1 |a Harkema, Sybolt. 
245 1 0 |a Electron density and X-ray diffraction /  |c door Sybolt Harkema. 
260 |a [S.l.] :  |b [s.n.],  |c 1971.  |e ([Enschede] :  |f Technische Hogeschool Twente) 
300 |a 80 p. :  |b ill. ;  |c 25 cm. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent. 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia. 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier. 
502 |b doctoral  |c Technische Hogeschool Twente  |d 1971. 
504 |a Met lit. opg. en een samenvatting in het Nederlands. 
500 |a Samenvatting in het Nederlands. 
710 2 |a Technische Hogeschool Twente. 
752 |a Netherlands. 
907 |a .b20985277  |b 03-15-22  |c 06-05-06 
998 |a diss  |b 06-05-06  |c m  |d -  |e -  |f eng  |g ne   |h 0  |i 1 
999 f f |i c78dc422-7f55-5b14-b30c-bccd7cae647d  |s b779222b-a4e5-5d47-bdf7-0d994153fa72  |t 0