Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
OCLC:51538024
Tác giả chính: Jäger, Christian
Tác giả của công ty: Universität Kiel
Ngôn ngữ:German
Được phát hành: Germany : Universität Kiel, 2002.
Định dạng:

Luận văn Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Miêu tả Local Call Number Trạng thái
P-60006916 Sẵn có