Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
OCLC:51538024
Glavni avtor: Jäger, Christian
Korporativna značnica: Universität Kiel
Jezik:German
Izdano: Germany : Universität Kiel, 2002.
Format:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Opis Local Call Number Status
P-60006916 Prosto