Einfluss von Fremdatomen auf Struktur und Verteilung von Stufen auf den Vizinalflächen von Si (001) /

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Detalhes bibliográficos
OCLC:75545774
Autor principal: Wasserfall, Johannes
Autor Corporativo: Technische Universität Berlin
Idioma:German
Publicado em: [S.l. : s.n.], 1994.
Edição:[Mikrofiche-Ausg.]
Assuntos:
Formato:

Thesis Monograph Microform

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