The electrical activity of defects created in silicon single crystals during ion implantation /
Sparad:
| OCLC: | 3928247 |
|---|---|
| Huvudupphovsman: | |
| Institutionell upphovsman: | |
| Språk: | English |
| Publicerad: |
Göteborg,
1973.
|
| Serie: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola.
|
| Ämnen: | |
| Materialtyp: | Lärdomsprov Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |