The electrical activity of defects created in silicon single crystals during ion implantation /
שמור ב:
| OCLC: | 3928247 |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחבר תאגידי: | |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Göteborg,
1973.
|
| סדרה: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola.
|
| נושאים: | |
| פורמט: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |