The electrical activity of defects created in silicon single crystals during ion implantation /
محفوظ في:
| OCLC: | 3928247 |
|---|---|
| المؤلف الرئيسي: | |
| مؤلف مشترك: | |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Göteborg,
1973.
|
| سلاسل: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola.
|
| الموضوعات: | |
| التنسيق: | أطروحة Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |