The electrical activity of defects created in silicon single crystals during ion implantation /
Αποθηκεύτηκε σε:
| OCLC: | 3928247 |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Göteborg,
1973.
|
| Σειρά: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola.
|
| Θέματα: | |
| Μορφή: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Photocopy. 1974. -- 30 cm. |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | [78] leaves : ill. |
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references. |
| Τόπος έκδοσης: | Sweden. |