The electrical activity of defects created in silicon single crystals during ion implantation /
Bewaard in:
OCLC: | 3928247 |
---|---|
Hoofdauteur: | |
Coauteur: | |
Taal: | English |
Gepubliceerd in: |
Göteborg,
1973.
|
Reeks: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola.
|
Onderwerpen: | |
Formaat: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
Beschrijving item: | Photocopy. 1974. -- 30 cm. |
---|---|
Fysieke beschrijving: | [78] leaves : ill. |
Bibliografie: | Includes bibliographical references. |
Plaats van publicatie: | Sweden. |