Schichtdickenbestimmung und elektronenmikroskopische untersuchung an abschreckend kondensierten kupferschichten /
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| OCLC: | 50951959 |
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| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Language: | German |
| Published: |
Germany :
Universität Köln,
1974.
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| Format: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |