Description de l'interface Si-SiO2 par des mesures de la capacité mos en très basses frequences /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
OCLC:49899739
Egile nagusia: Castagné, René
Erakunde egilea: Faculté des sciences d'Orsay (Université de Paris)
Hizkuntza:English
Argitaratua: 1970.
Gaiak:
MOS capacitance.
frequency.
electro chemistry.
Formatua:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Deskribapena Local Call Number Egoera
P-00017461 Eskuragarri

Antzeko izenburuak