Simultaneous determination of specimen composition and thickness using the transmission electron microscope : proefschrift

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
OCLC:44794068
Hlavní autor: Boon, Gerben
Korporativní autor: Technische Universiteit Eindhoven
Jazyk:English
Vydáno: Eindhoven : Technische Universiteit Eindhoven, 2000.
Témata:
Médium:

Diplomová práce Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Popis Local Call Number Stav
P-00251588 Dostupné