Simultaneous determination of specimen composition and thickness using the transmission electron microscope : proefschrift

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
OCLC:44794068
Egile nagusia: Boon, Gerben
Erakunde egilea: Technische Universiteit Eindhoven
Hizkuntza:English
Argitaratua: Eindhoven : Technische Universiteit Eindhoven, 2000.
Gaiak:
Formatua:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.