Advanced electron microscopy of wide band-gap semiconductor materials.

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Fay, Michael W.
Έκδοση: University of Sheffield 2000.
Μορφή:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.