Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
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| OCLC: | 51091379 |
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| 企业作者: | |
| 语言: | German |
| 出版: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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| 格式: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |