Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
Đã lưu trong:
| OCLC: | 51091379 |
|---|---|
| Tác giả chính: | |
| Tác giả của công ty: | |
| Ngôn ngữ: | German |
| Được phát hành: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
|
| Định dạng: | Luận văn Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |