Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
Bewaard in:
OCLC: | 51091379 |
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Hoofdauteur: | |
Coauteur: | |
Taal: | German |
Gepubliceerd in: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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