Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
Gespeichert in:
| OCLC: | 51091379 |
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| 1. Verfasser: | |
| Körperschaft: | |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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| Format: | Abschlussarbeit Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |