Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
Uloženo v:
| OCLC: | 51091379 |
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| Hlavní autor: | |
| Korporativní autor: | |
| Jazyk: | German |
| Vydáno: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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| Médium: | Diplomová práce Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |