Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
محفوظ في:
| OCLC: | 51091379 |
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| المؤلف الرئيسي: | |
| مؤلف مشترك: | |
| اللغة: | German |
| منشور في: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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| التنسيق: | أطروحة Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |