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Viña Liste, L. (1984). Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern: Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte. Universität Stuttgart.

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Viña Liste, Luis. Ellipsometrische Untersuchungen Der Optischen Konstanten Und Elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern: Temperatur-, Legierungs- Und Dotierungseffekte. Germany: Universität Stuttgart, 1984.

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Viña Liste, Luis. Ellipsometrische Untersuchungen Der Optischen Konstanten Und Elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern: Temperatur-, Legierungs- Und Dotierungseffekte. Universität Stuttgart, 1984.