Meijer, E. (1982). Characterization of some technically important defects in semiconductors. Lunds universitet.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Meijer, Erik. Characterization of Some Technically Important Defects in Semiconductors. Sweden: Lunds universitet, 1982.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Meijer, Erik. Characterization of Some Technically Important Defects in Semiconductors. Lunds universitet, 1982.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.