Graphischer Einsatz zyklusorientierter Tests im digitalen VLSI-Entwurf /

類似資料

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  著者:: Blum, Arnold
  出版事項: (1988)
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  著者:: Oehm, Jürgen
  出版事項: (1992)
• Secure testing of VLSI cryptographic equipment
  著者:: Bonnenberg, Heinz, 1960-
  出版事項: (1993)
• Entwurfs- und Detailzeichnungserstellung mit Hilfe Graphischer Datenverarbeitungsanlagen
  著者:: Butz, Hans-Werner
  出版事項: (1974)
• Fehlermodelle für höhere Hardware-Beschreibungen beim Entwurf grosser VLSI-Chips
  著者:: Wachsmann, Klaus-Peter A.
  出版事項: (1994)