Graphischer Einsatz zyklusorientierter Tests im digitalen VLSI-Entwurf /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
OCLC:50593976
מחבר ראשי: Werthebach, Rainer H.
מחבר תאגידי: Technische Hochschule Carolo-Wilhelmina zu Braunschweig
שפה:German
יצא לאור: 1993.
פורמט:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

תיאור Local Call Number סטטוס
P-00048485 זמין

פריטים דומים