Graphischer Einsatz zyklusorientierter Tests im digitalen VLSI-Entwurf /
Guardat en:
| OCLC: | 50593976 |
|---|---|
| Autor principal: | |
| Autor corporatiu: | |
| Idioma: | German |
| Publicat: |
1993.
|
| Format: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Descripció física: | 180 p. |
|---|---|
| Lloc de publicació: | Germany. |