Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Đã lưu trong:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| Tác giả chính: | |
| Tác giả của công ty: | |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
2000.
|
| Những chủ đề: | |
| Định dạng: | Luận văn Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |