Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

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書誌詳細
OCLC:48217405
第一著者: Mannelquist, Anders
団体著者: Luleå University of Technology
言語:English
出版事項: 2000.
主題:
フォーマット:

学位論文 Monograph

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diss.2000 P-00000675 利用可