Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

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OCLC:48217405
Autore principale: Mannelquist, Anders
Ente Autore: Luleå University of Technology
Lingua:English
Pubblicazione: 2000.
Soggetti:
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Tesi Monograph

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diss.2000 P-00000675 Disponibile