Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
OCLC:48217405
מחבר ראשי: Mannelquist, Anders
מחבר תאגידי: Luleå University of Technology
שפה:English
יצא לאור: 2000.
נושאים:
פורמט:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

תיאור Local Call Number סטטוס
diss.2000 P-00000675 זמין