Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Αποθηκεύτηκε σε:
OCLC: | 48217405 |
---|---|
Κύριος συγγραφέας: | |
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
2000.
|
Θέματα: | |
Μορφή: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
Borrow this resource
Item List
Περιγραφή | Local Call Number | Κατάσταση |
---|---|---|
diss.2000 | P-00000675 | Στη βιβλιοθήκη |