Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
OCLC:48217405
Κύριος συγγραφέας: Mannelquist, Anders
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Luleå University of Technology
Γλώσσα:English
Έκδοση: 2000.
Θέματα:
Μορφή:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Περιγραφή Local Call Number Κατάσταση
diss.2000 P-00000675 Στη βιβλιοθήκη