Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
OCLC:48217405
প্রধান লেখক: Mannelquist, Anders
সংস্থা লেখক: Luleå University of Technology
ভাষা:English
প্রকাশিত: 2000.
বিষয়গুলি:
বিন্যাস:

গবেষণাপত্র Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

বিবরন Local Call Number বর্তমান অবস্থা
diss.2000 P-00000675 লভ্য