Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
محفوظ في:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| المؤلف الرئيسي: | |
| مؤلف مشترك: | |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2000.
|
| الموضوعات: | |
| التنسيق: | أطروحة Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |