Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:48217405
المؤلف الرئيسي: Mannelquist, Anders
مؤلف مشترك: Luleå University of Technology
اللغة:English
منشور في: 2000.
الموضوعات:
التنسيق:

أطروحة Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

LEADER 01323nam a22003137a 4500
001 in00005604959
003 OCoLC
005 20011026121022.0
008 011026s2000 sw 000 0 eng d
035 |a (OCoLC)48217405 
040 |a CRL  |c CRL 
049 |a CRLL 
099 |a P-00000675 
100 1 |a Mannelquist, Anders. 
245 1 0 |a Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /  |c Anders Mannelquist. 
260 |c 2000. 
300 |a 1 v. (various pagings) :  |b ill. ;  |c 24 cm. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent. 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia. 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier. 
504 |a Includes bibliographical references. 
502 |b doctoral  |c Luleå University of Technology  |d 2000. 
653 |a near-field scanning optimal microscopy  |a atomic force microscopy  |a fractal characterization. 
710 2 |a Luleå University of Technology. 
752 |a Sweden. 
907 |a .b15436470  |b 03-28-22  |c 10-26-01 
998 |a diss  |b 10-26-01  |c m  |d -  |e -  |f eng  |g sw   |h 0  |i 1 
999 f f |i 2e12fd67-c4bd-5d38-977c-d3eb89e52d32  |s 567e4b5c-5f37-5891-9425-79a9ed967f96  |t 0