Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
OCLC:48217405
Tác giả chính: Mannelquist, Anders
Tác giả của công ty: Luleå University of Technology
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: 2000.
Những chủ đề:
near-field scanning optimal microscopy > atomic force microscopy > fractal characterization.
Định dạng:

Luận văn Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Miêu tả
Mô tả vật lý:1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm.
Thư mục:Includes bibliographical references.
Nơi xuất bản:Sweden.

Những quyển sách tương tự