Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
OCLC:48217405
Yazar: Mannelquist, Anders
Müşterek Yazar: Luleå University of Technology
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: 2000.
Konular:
Materyal Türü:

Tez Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm.
Bibliyografya:Includes bibliographical references.
Yayın Yeri:Sweden.