Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Сохранить в:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Соавтор: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
2000.
|
| Предметы: | |
| Формат: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Объем: | 1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm. |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical references. |
| Поместить публикацию: | Sweden. |