Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Zapisane w:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| 1. autor: | |
| Korporacja: | |
| Język: | English |
| Wydane: |
2000.
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Format: | Praca dyplomowa Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Opis fizyczny: | 1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm. |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Miejsce wydania: | Sweden. |