Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

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書誌詳細
OCLC:48217405
第一著者: Mannelquist, Anders
団体著者: Luleå University of Technology
言語:English
出版事項: 2000.
主題:
フォーマット:

学位論文 Monograph

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その他の書誌記述
物理的記述:1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm.
書誌:Includes bibliographical references.
出版地:Sweden.