Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Salvato in:
| OCLC: | 48217405 |
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| Autore principale: | |
| Ente Autore: | |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
2000.
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| Soggetti: | |
| Natura: | Tesi Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Descrizione fisica: | 1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm. |
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| Bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Luogo di pubblicazione: | Sweden. |