Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
OCLC:48217405
מחבר ראשי: Mannelquist, Anders
מחבר תאגידי: Luleå University of Technology
שפה:English
יצא לאור: 2000.
נושאים:
near-field scanning optimal microscopy > atomic force microscopy > fractal characterization.
פורמט:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

תיאור
תיאור פיזי:1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references.
Place of Publication:Sweden.

פריטים דומים